无源测试
探索研究院测试业务（一）
上海交大平湖智能光电研究院
前言 / PREFACE
今天，我们将开启研究院新的服务项目介绍——芯片测试能力，第一站带领大家深入了解研究院的无源测试能力，一起看看我们如何用专业的技术手段，为光电器件的性能与品质筑牢第一道防线。
01
什么是无源测试
Detailed Introduction
在光电子芯片的研发与量产中，无源测试是验证器件光学性能的关键环节。它无需给器件供电，就能精准评估光在芯片中的传输特性，是筛选、优化器件性能的 “第一道关卡”。
我们的无源测试平台，能为各类光电器件提供全面、精准的光学表征服务，覆盖从基础损耗到偏振特性、模场分布的多维度测试需求。
02
研究院无源测试核心能力
Core Capabilities
我们的测试系统经过专业搭建与优化，具备以下核心能力：
·支持IL,PDL,TE/TM测试
·光栅或者端面结构的单光纤和光纤阵列均可支持
·扫描波长覆盖1240nm-1380nm和1450nm-1650nm,最高扫描精度1pm
·对各类端面耦合器模斑测试
03
典型测试案例解析
Typical Cases
案例 1：无源波导光谱测试
器件结构
以多通道无源波导芯片为例，通过片上波导结构实现光信号的分路与传输，测试端口位于芯片端面的光口处。
测试框架
通过自动偏振控制器调控输入光的偏振态，配合高精度功率计，实现不同偏振态下器件光谱响应的自动化扫描。
测试结果与结论
测试系统可直接输出 IL、PDL、TE/TM 偏振态的光谱曲线，清晰呈现器件在目标波段内的损耗变化、偏振相关特性。通过通道自动扫谱，能快速完成多通道器件的批量性能评估，为器件的优化迭代提供可靠的数据支撑。
案例 2：调制器输出光口模斑测试
测试结构
以多通道电光调制器芯片为例，光信号通过片上调制后，从端面光口输出，测试聚焦于输出端的光斑。
测试框架
偏振控制器保证输入光的偏振稳定性，光斑仪精准捕捉器件输出端的远场模斑，分析光口的光斑直径等关键指标。
测试结果与结论
可测得清晰、准确的远场模斑图像与参数，直观反映器件的光场分布特性，验证端面耦合的效果与器件的模式控制能力，为耦合工艺优化和器件性能验证提供关键依据。
04
为什么选择我们的无源测试服务？
Our Advantages
依托上海交大的技术沉淀与研究院的平台资源，我们的无源测试服务具备以下核心优势：
专业团队支撑
由具备多年光电子测试经验的工程师团队提供定制化测试方案，快速响应客户需求，精准解读测试数据。
高精度设备保障
配备高精度光源、偏振控制器、功率计与光斑仪，确保测试数据的准确性、重复性与可靠性。
全流程定制服务
从测试方案设计、样品测试到数据解读，提供一站式服务，助力客户快速推进研发与量产进程。
场景化适配能力
无论是光通信、光传感还是集成光学领域的无源器件，都能提供适配不同应用场景的测试服务。
从研发样品验证到小批量检测筛选，我们均可提供专业、高效的无源测试服务，为器件的性能优化与品质验证保驾护航。
05
诚邀携手 共创共赢
Cooperation Invitation
无源测试是光电子芯片研发、工艺迭代、量产质检的核心基础环节，精准、高效的无源性能表征，是提升光芯片良品率、优化器件设计、缩短研发周期的关键所在。为赋能光电行业创新研发，盘活高端测试资源，上海交大平湖智能光电研究院面向全行业、全高校科研团队开放全套芯片无源测试平台。
如需了解更多无源测试服务详情，欢迎随时联系我们的销售团队，预约测试方案对接与现场参观！
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编辑丨宣发部
初审丨宋佳磊
终审 | 叶璐
