110G-LCA
S 参数测试
探索研究院测试业务（四）
上海交大平湖智能光电研究院
前言 / PREFACE
上期我们了解了 67G-LCA 光波元器件分析仪的高频光电测试能力，本期研究院测试系列第四弹，我们将解锁110G-LCA S 参数全套表征方案，突破毫米波高频测试边界，为高速电光，光电器件提供 10MHz-110GHz 全频段射频性能精准校验。
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读懂 110G-LCA S参数测试
Detailed Introduction
相较于上期 67G-LCA 平台，110G-LCA 实现了测试频段的跨越式升级，将高频测试上限从 67GHz 突破至 110GHz，正式覆盖毫米波超高频测试区间，彻底打破前代设备的高频测试壁垒。随着算力网络、超大规模数据中心高速迭代，行业已全面迈入1.6T 规模化商用、3.2T 前沿预研的高速光通信新阶段，单通道 200G/400G 波特率的高速光电器件、硅光集成芯片、薄膜铌酸锂调制器等核心元器件，工作频段已远超 67GHz 测试边界。
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研究院110G-LCA S测试能力
Core Capabilities
我院 110G-LCA 超高频测试平台，完整覆盖下一代超高速光通信全系工作频段，可精准适配 1.6T 量产研发、3.2T 前沿预研的全流程测试需求，补齐毫米波高频表征短板，精准捕捉超高频下微小的阻抗失配、信号谐振、传输衰减等隐性问题，为新一代高速互联器件的设计优化、工艺迭代、性能标定提供全频段、高精度的数据支撑，完美匹配当下高端光电器件的前沿研发与产业化落地需求。
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频率覆盖范围：可实现 10MHz~110GHz 区间内器件单端、差分 S 参数测试，完整覆盖当下超高速光通信芯片工作频段。
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器件测试类型：支持 EE、EO、OE、OO 四类光电耦合结构器件测试，匹配铌酸锂调制器、硅光调制器、高速光电探测器等主流光子芯片。
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光学波段兼容：测试光波长覆盖 1260nm-1620nm 通信 C+L 波段，适配长距、数据中心光模块研发验证。
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配套探针资源：常备多款高频射频探针，包含 GSG 100μm/150μm、GSGSG 差分 150μm、GSSG 125μm 探针，兼顾单端、差分电极器件的在片测试需求，无需反复更换探针，大幅提升样品测试效率。
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典型测试案例解析
Typical Cases
案例：
铌酸锂高速调制器带宽表征
器件结构
测试框架
测试结果与结论
1. 在光通讯领域，为了追求更高带宽速率，铌酸锂调制器的带宽是其重要的一项指标；2. 由图可知，此调制器的带宽可达到110GHz。
测试价值
1、行业刚需层面：面向 800G、1.6T 及下一代超高速光模块研发，铌酸锂调制器带宽直接决定单通道传输速率，110GHz 级超高频表征是高速光子芯片落地量产必不可少的验证环节，可提前筛除电极阻抗失配、高频损耗过大等设计缺陷。
2、平台能力结论：依托我院 110G-LCA 测试系统，本次被测薄膜铌酸锂调制器实测可用带宽可达 110GHz，充分验证平台具备毫米波级光子芯片全带宽表征能力，可支撑企业、科研团队完成高速光电器件迭代研发、工艺验证、样品对标测试。
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赋能产业
Our Advantages
研究院依托自研完备的110G-LCA超高频S参数测试能力，从补齐产业短板、助力企业研发、赋能产业集群三大维度深度赋能行业发展：
搭建全链条验证体系
研究院打通「芯片设计—封装工艺—模块集成—系统整机」一体化测试验证闭环，解决企业百GHz频段测试设备贵、精度不足、测试场景单一的行业痛点。
降本增效助力企业研发
通过标准化、一体化的超高频阻抗表征测试服务，有效缩短高端光电器件、高速互联产品的研发周期，大幅降低试样返工、批量试产损耗，提升产品良率与市场竞争力。
赋能产业链自主创新
立足平湖辐射长三角，凭借超高频专业测试能力，服务光电、射频、算力企业，支撑高速光互联、6G 毫米波技术攻关，赋能区域光电产业集群，保障通信算力国产化落地。
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诚邀携手 共创共赢
Cooperation Invitation
从 67G-LCA 到 110G-LCA，我院光波元器件分析仪测试平台持续向上拓展高频测试边界，形成覆盖 10MHz 至 110GHz 的完整光电 S 参数测试能力，可对外提供铌酸锂调制器、硅光芯片、高速探测器等各类光子器件的在片高频测试、带宽标定、阻抗匹配校验、工艺对比验证一站式检测服务。后续测试系列推文将持续带来研究院其他高端表征平台介绍，有高速光电器件测试、联合研发需求的行业伙伴，欢迎随时咨询对接！
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编辑丨宣发部
初审丨宋佳磊
终审 | 叶璐
